亿兆纳米线宽作为集成电路的关键尺寸，指晶体管栅极的最小线宽(栅宽)，是描述集成电路工艺先进程度的一个重要指标，其量值的准确性将极大影响电流、电阻等电特性参数，从而影响芯片器件的性能指标。

有研究表明，当集成电路线宽节点达到32nm以下时，线宽量值10%的误差将导致芯片器件失效。当前集成电路先进的工艺制程节点要求线宽达到原子级准确度，通常采用线宽标准物质对关键尺寸量测设备进行计量溯源，以确保关键尺寸设计加工的准确性。随着集成电路工艺制程节点的不断缩小，芯片的晶体管密度增加和性能提升得益于晶体管栅极宽度的不断减少。